Peranan Pengawasan Mutu Terhadap Jumlah Kerusakan Produk Bihun Pada PT. X Di Sidoarjo

Wijaya, Wongso Hertanto (1998) Peranan Pengawasan Mutu Terhadap Jumlah Kerusakan Produk Bihun Pada PT. X Di Sidoarjo. Skripsi thesis, Universitas Widya Kartika.

[img] Text (ABSTRAK)
118.WONGSO HERTANTO WIJAYA.pdf

Download (1MB)

Abstract

Pada era globalisasi ini, setiap perusahaan pasti menghadapi persaingan usaha yang ketat. Mutu merupakan salah satu faktor yang berperan dalam menghadapi persaingan yang ketat. Apabila mutu dari produk yang dihasilkan tidak sesuai dengan harapan konsumen maka dipastikan perusahaan itu akan kalah dalam persaingan produknya dari para pesaingnya. Perusahaan Bihun PT. X di Sidoaıjo mengalami masalah pada peranan pengawasan mutu yang menyebabkan banyaknya jumlah produk yang rusak, sehingga perlu diadakan pembahasan pada peranan pengawasan mutu yang dihubungkan dengan jumlah kerusakan produk. Dengan membahas variabel-variabel yang ada dalam pengawasan mutu yaitu antara lain frekuensi pengawasan mutu, biaya pengawasan mutu, dan biaya pelatihan tenaga kerja, maka dapat diketahui ada atau tidaknya peranan ketiga variabel itu terhadap jumlah kerusakan produk. Dengan menggunakan analisis regresi linear berganda maka diketahui bahwa dari hasil perhitungan tersebut, biaya pengawasan mutu dm biaya pelatihan tenaga kerja berperan terhadap jumlah kerusakan produk. Oleh karena itu perusahaan Bihun PT. X perlu melakukan pembenahan pada biaya pengawasan mutu dan biaya pelatihan tenaga keŞa sehingga jumlah kerusakan produk dapat berkurang atan tidak melebihi standar yang telah ditentukan perusahaan.

Item Type: Thesis (Skripsi)
Additional Information: SK.EKO Wij 118 1998
Subjects: T Technology > TS Manufactures > TS1-2301 Manufactures > TS155-194 Production management. Operations management
Divisions: Fakultas Ekonomi > Program Studi Manajemen
Depositing User: Staff Perpustakaan UWIKA
Date Deposited: 16 Dec 2022 02:40
Last Modified: 16 Dec 2022 02:40
URI: http://repository.widyakartika.ac.id/id/eprint/3100

Actions (login required)

View Item View Item